Dedikált, nagy-szögfelbontású, kétkristályos diffraktométer

A ELTE Kutatási Infrastruktúra Adatbázis wikiből


Tartalomjegyzék



Általános leírás

*Gép/műszer/helyiség szakszerű, hivatalos megnevezése
Dedikált, nagy-szögfelbontású, kétkristályos diffraktométer
*Az adott Gép/műszer/helyiség rövid leírása, legfőbb tudományos és/vagy műszaki jellemzői
A műszer segítségével röntgen diffrakciós vonalprofil analízist végezhetünk, amelynek célja, hogy a diffrakciós profilok alakjából meghatározzuk a mikroszerkezet jellemző paramétereit, pl. a szemcseméretet és annak eloszlását, valamint a rácshibák típusát és sűrűségét.

A röntgen vonalprofil analízis a mikroszkópos eljárásokkal ellentétben nem direkt vizsgálati módszer, azaz közvetlenül nem látjuk a mikroszerkezetet. Következésképpen a vonalak kiértékelésénél a minta szemcse- és rácshiba-szerkezetére kvalitatív feltevéseket kell tennünk. Ilyen gyakran használt feltételezések például, hogy a szemcsék alakja gömb illetve, hogy a rácstorzulást vonalhibák okozzák.

A mikroszerkezetre tett feltételezések realitását érdemes transzmissziós elektronmikroszkópos (TEM) vizsgálatokkal ellenőrizni. A mérések során kapott értékek statisztikailag nagyobb biztonsággal jellemzik a mikroszerkezetet, mint a mikroszkópos vizsgálatok, mert nagyságrendekkel nagyobb térfogatról adnak információt. A vonalprofil analízis másik előnye, hogy sokkal olcsóbb és egyszerűbb a minta-előkészítés, mint például a TEM vizsgálatoknál.

A mintáról szóródott sugárzást kétdimenziós síkdetektorokkal, ún. „imaging plate”-ekkel detektáljuk és a vonalprofilokat saját fejlesztésű szoftverrel értékeljük ki.
*Gép/műszer/helyiséghez tartozó honlapcím (ha van)
http://submicro.elte.hu/tool.php?tool=fr591

Tudományterületek

*Az adott gép/műszer/helyiség mely tudományterületek kutatása során használható?
(K+F Tárgyszórendszer; thesaurus ortelius; több is megadható)
4.6.16 Szilárdtestfizika
*Az adott gép/műszer/helyiség mely tudományterületek kutatása során használható? (TEÁOR besorolás; több is megadható)
721 Természettudományi, műszaki kutatás, fejlesztés
*A berendezéssel elvégezhető mérések/kutatások
A berendezés egyik előnye a hagyományos sugárforrásokhoz képest, hogy kicsi az instrumentális profil szélessége, ami megnöveli a szemcseméretmérés felső határát illetve a diszlokációsűrűség mérésének alsó korlátját. A kis instrumentális szélesedést keskeny (kb. 100 μm széles) párhuzamos nyaláb előállításával érjük el. A keskeny sugárkeresztmetszet miatt a nyalábnak a hagyományosnál nagyobb fényességűnek kell lennie, amit úgy érnek el, hogy az anód anyagát egy jól hűthető forgó hengerfelületre viszik fel.

Az elrendezés másik előnye a nagy felbontóképesség, ami annak köszönhető hogy a minta-detektor távolságot egészen 1 méterig meg lehet növelni. A nagy felbontásra azért van szükség, hogy elég sok mérési pontunk legyen a profilban. A harmadik előny, hogy a nyaláb monokromatizált, azaz jelen esetben csak a CuKα(1) nyalábot engedi át λ = 0,15406 nm hullámhosszal.



Működés, működtetés

*A gép/műszer/berendezés színvonala világszínvonalhoz viszonyítva (1 = elavult, de még használható; 3= közepes 5 = vezető)
3
*A gép/műszer/berendezés színvonala magyarországi viszonylatban (0=felújítandó, nem használható 1 = elavult, de még használható; 3= közepes 5 = vezető)
3
*A gép/műszer/berendezés egyedisége világviszonylatban (1= nagyon elterjedt, 5= világviszonylatban ritkaság)
1
*A gép/műszer/berendezés egyedisége magyarországi viszonylatban (1= nagyon elterjedt, 5= magyarországi viszonylatban ritkaság))
5




Személyes eszközök